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高级建模和测量软件 IVCAD 3.7 含许可证授权激活教程

  • 软件大小:未知
  • 更新日期:2020-04-22
  • 官方网站:https://www.maurymw.com/
  • 软件等级:★★★☆☆
  • 运行环境:Winxp/Win7/Win8/Win10
高级建模和测量软件 IVCAD 3.7 含许可证授权激活教程
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IVCAD旨在为用户提供准确的测量并充满信心地进行建模,是领先的高级测量和建模软件,IVCAD提供了支持Keysight的X参数和AMCAD的Multi-Harmonic Volterra(MHV)两种行为建模方法,具有与商业电路仿真工具兼容的稳定性分析(STAN)模块,支持多种形式的实时矢量网络分析仪(VNA)负载牵引!并兼具直观的用户环境,系统有效的工具集,让设计人员在最短的时间内完成设计并获得成功,它完美满足了对精简、高效的测量和建模设备表征工具的所有需求,有效的解决了从组件到电路,再到系统的设计流程这一完整的挑战和流程,实现最先进稳定的技术,支持用各种技术实现的负载迁移测量系统,最灵活的测量设置和最稳定的结构显示和处理能力,可用各种图形来直观的进行测量数据的表示,功能齐全,使用容易,是理想的测量软件相关的独特建模解决方案!压缩包中提供破解文件和许可证文件,有需要的朋友不要错过了!

安装破解教程

1、下载并解压,得到以下内容
2、双击IVCAD-3.7.exe运行安装,安装路径,点击next
3、安装完成,退出向导,不要启动程序
4、将破解文件夹中的ivcad.exe和ivcad.lic许可证复制到安装目录中,默认路径C:\Program Files (x86)\Maury Microwave\IVCAD点击替换目标中的文件

6、运行应用程序并导入ivcad.lic许可证文件

软件功能

1、IVCAD设备表征
IVCAD Device Characterization是一个全面而先进的测量平台,可通过脉冲IV,S参数和负载拉力测量来实现RF和微波组件的表征。
2、IVCAD紧凑建模
IVCAD Compact Modeling提供了直观的紧凑建模向导,可使用脉冲IV和脉冲S参数测量来帮助提取LDMOS和IIIV晶体管模型。
3、IVCAD行为建模
IVCAD EPHD Modeling是基于负载拉力测量的交钥匙黑盒子建模解决方案,它克服了在短时间内提取封装或晶圆上晶体管模型的挑战。它可以使用商用谐波平衡仿真器进行精确的负载牵引仿真。
4、IVCAD数据分析
IVCAD可以在短时间内生成大量数据,因此可视化模块是一个功能强大的工具,可用于在几个步骤中突出显示关键信息。
5、IVCAD稳定性分析工具
导致不稳定的MMIC电路的设计昂贵且非常耗时。 STAN工具可确保您的设计流程安全,并揭示线性或非线性工作条件下隐藏的电路不稳定性。

软件特色

1、先进的测量和建模
行业参与者的合并以及可接受的上市时间的总体减少导致对精简,高效的测量和建模设备表征工具的需求。 Maury Microwave与战略合作伙伴AMCAD Engineering共同发布了IVCAD测量和建模设备特性分析软件,从而成功地应对了这一挑战,该软件是涵盖从组件到电路再到系统的设计流程的最完整的商业解决方案。
2、脉冲IV,脉冲RF和紧凑型晶体管建模(III-V和LDMOS)
设计流程从流行的晶体管技术(例如GaN FET和LDMOS)的组件级线性和非线性模型提取开始。首先,IVCAD结合BILT脉冲IV系统和脉冲网络分析仪将在变化的栅极和漏极偏置条件下测量同步的脉冲IV和脉冲S参数数据。将设置特定的脉冲宽度,以消除自发热并在准等温条件下操作晶体管。将设置静态栅极和漏极电压以隔离和建模栅极滞后和漏极滞后陷获现象。可以在不同的卡盘温度,变化的脉冲宽度和静态偏置点下重复测量,以提取电热模型分量。在IVCAD平台内执行AMCAD III-V和LDMOS模型提取;用于记录相关测量值的相同工具也用于提取完整的紧凑模型。测得的S参数用于提取由外部(焊盘电容,端口金属化电感,端口欧姆电阻)和固有参数(通道电容,欧姆电阻,互感,输出电容和电阻)组成的线性模型。同步脉冲IV和脉冲S参数用于提取非线性电容,电压控制的输出电流源,二极管,击穿发生器,热和陷波电路。
3、负载牵引(矢量接收器和传统)
负载拉动涉及在一个或多个频率上改变被测器件(DUT)的负载阻抗并测量其性能,包括基频和谐波频率下的输出功率,增益,效率,互调失真...负载拉动可以可用于放大器设计,模型提取,模型验证,作为失配函数的性能测试,以及测试成品系统的鲁棒性。一旦提取了非线性紧凑模型,就可以通过调整非线性参数以使非线性测量更好地匹配,从而将负载拉力用于模型优化。通过将模拟和测量的晶体管性能作为提供给晶体管的负载阻抗的函数进行叠加,也可以将负载拉动用于模型验证。 IVCAD支持多种形式的传统(标量,调制)和矢量接收器(基于VNA的实时)负载提取方法。传统的负载牵引包括CW和脉冲CW单音和双音以及调制输入信号,源和负载上的基波和谐波阻抗控制,直流和脉冲偏置刺激下的无源阻抗生成技术。向量接收器负载上拉包括CW和脉冲CW单音和两音输入信号,源和负载上的基波和谐波阻抗控制,无源,有源和混合有源阻抗生成技术,时域波形NVNA负载上拉,在直流和脉冲偏置刺激下。被动负载拉动允许工程师使用机械阻抗调谐器来改变提供给DUT的源阻抗和负载阻抗。无源负载牵引在基频和谐波频率下可用。有源负载牵引将一个或多个频率的无源调谐器替换为“有源调谐器”,该有源调谐器使用幅度和相位可控的源向DUT的输出注入功率,从而产生改变反射阻抗所需的“反射”信号。主动负载牵引技术克服了谐波无源调谐器带来的机械和VSWR挑战,以及与调谐器弹头的组合运动有关的不同频率之间的调谐隔离挑战。混合主动负载牵引结合了主动和被动负载牵引的优势,允许被动调谐器充当预匹配器,以降低“主动调谐器”所需的功率,并分频处理多个频率。时域NVNA负载拉动功能除了可以记录典型的测量参数外,还可以记录电压,电流波形和负载线。这些附加信息对于研究晶体管的灵敏度以及操作类别很有用。同步脉冲RF脉冲偏置负载上拉使用BILT PIV系统为DUT偏置以进行真正的脉冲测量。施加偏压可以设置晶体管的热状态并避免自热。这对于偏置将被脉冲化的MMIC应用也很有用。
4、行为建模
行为建模是一种“黑匣子”建模技术,可以对DUT对特定刺激(输入功率,偏置,阻抗...)的响应进行建模。与完全定义晶体管特性的紧凑模型相比,行为模型仅定义“行为”,而静态模型在提取它们的条件下才有效。行为模型在几种应用中很有用:隐藏晶体管细节的细节,同时专注于其性能和响应(适用于公共发行),提高仿真速度(行为模型通常比包含该模型的紧凑模型要快。数据),以对封装的组件甚至整个电路或系统(与紧凑模型不兼容)进行建模.IVCAD支持三种行为建模方法:是德科技的X参数和AMCAD的Multi-Harmonic Volterra(MHV)和增强型PHD。 X参数是多谐波失真方法(谐波叠加)的结果,该方法使用谐波提取音来量化DUT的谐波非线性。 MHV建模技术基于谐波叠加与动态Volterra理论相结合,从而产生了一个可以同时处理低频和高频记忆效应的模型。 MHV建模的优势在于,即使使用复杂的调制宽带信号,它也可以在商用RF电路或系统仿真器中进行准确而可靠的仿真。由于具有这种准确性,因此可以安全地分析RF系统最重要的品质因数(例如EVM,ACPR,IM3等)。增强型PHD(EPHD)非常适合放大器的行为建模,在这种情况下,可以外推负载条件除了在建模提取过程中使用的那些之外,还需要IVCAD中的行为建模对用户是透明的。定义了扫描计划(阻抗,功率,偏置...),并且测量正常进行,但是该软件将与相关的模型提取应用程序进行通信,并在完成测量例程后提供完整的模型。
5、电路的稳定性分析
在电路仿真器上设计完放大器或集成电路后,测试该设计的低频和高频振荡至关重要。 IVCAD提供了与商业电路仿真工具兼容的稳定性分析模块(STAN)。单节点和多节点分析可确定振荡的原因和位置。参数分析确定振荡随输入功率,偏置,负载阻抗和稳定网络参数(电阻值)的变化而变化。蒙特卡洛分析发现振荡是制造偏差和公差的函数。无论是用于单个目的,还是用于多个建模,设计和生产组,IVCAD测量和建模设备特征分析软件套件都提供了直观,系统,有效的解决方案,以确保首次通过设计并获得最快的上市时间。

使用说明

IVCAD软件套件模型
MT930B1 IVCAD基本可视化 
MT930B2 IVCAD高级可视化插件 
MT930C IVCAD矢量接收器负载拉 
MT930D1 IVCAD传统拉力 
MT930D2 IVCAD谐波,频谱和矢量分析仪附加组件 
MT930E 用于负载牵引的IVCAD IV曲线 
MT930F IVCAD基本S参数 
MT930GA IVCAD时域LSA附加组件 
MT930GB IVCAD是德科技NVNA支持附加组件 
MT930H IVCAD有效载荷拉力 
MT930J IVCAD脉冲IV曲线 
MT930K IVCAD脉冲S参数 
MT930L IVCAD脚本语言 
MT930M1 IVCAD线性模型提取 
MT930M2A IVCAD非线性模型提取,III-V 
MT930M2B IVCAD非线性模型提取,LDMOS 
MT930P IVCAD测量工具箱 
MT930Q IVCAD稳定性分析工具 
MT930R1 IVCAD EPHD行为模型

使用帮助

1、获得频率响应H0(jωS)
该频率响应是在给定的频率带宽中获得的,并且对应于其稳态解的电路线性化。 可能进行两种分析:-DC或小信号稳定性-大信号稳定性:电路的周期性稳态解决方案的稳定性(由标准谐波平衡仿真给出)


2、将STAN工具应用于此频率响应H0(jωS)
这样做是为了获得相应的传递函数H 0(S),即定义传递函数的极点和零点。
实数部分为正的极点的存在表明所分析的稳态解的不稳定性。 如果找到一对具有正实部的复共轭极,那么将以极的虚部给出的频率开始振荡。

•结果不稳定的示例:

3、获得频率响应
为了便于在Agilent ADS中获得频率响应,提供了ADS 2009U1和ADS 2011的模板设计套件。请参考文档“如何为STAN Tool安装ADS设计套件”。 对于AWR MWO,提供了STAN Automation实用程序,请参考文档“ STAN Automation r4.pdf”。
•template_AC.dsn和template_AC.dds:为了获得电路在DC偏置点附近的频率响应,需要执行以下步骤:
-在template_AC.dsn中引入适当偏置的电路
-选择要分析的节点
-选择 扫频(初始频率,最终频率和点数)。 用户可以根据其问题的动态来修改频率分辨率(即点数)。
-运行AC模拟-模拟完成后,从“数据显示”模板(template_AC.dds)导出数据表。 可以通过STAN工具直接读取获取的文件。

•template_HB.dsn和template_HB.dds:
为了获得有关周期稳态解决方案(大信号稳定性)的电路频率响应,需要执行以下步骤:
-为电路引入其特定的偏置和输入驱动条件 在template_HB.dsn中
-选择要分析的节点
-选择扫频(初始频率,最终频率和点数)。 用户可以根据其问题的动态来修改频率分辨率(即点数)。
-运行谐波平衡仿真(实际上这是一个类似于混频器的仿真,其中输入驱动起到LO的作用,小信号电流源为RF)
-仿真完成后,从“数据显示”中导出数据表 模板(template_HB.dds)。 可以通过STAN工具直接读取获取的文件。

•template_param.dsn和template_param.dds:
为了获得关于电路稳态的一组频率响应,该频率响应是任何电路参数的函数,需要执行以下步骤:
-为电路引入特定的偏置和输入 template_param.dsn中的驱动条件
-选择要分析的节点-选择电路参数(初始值,最终值和点数)
-选择扫频(初始频率,最终频率和点数)。 用户可以根据其问题的动态来修改频率分辨率(即点数)。
-运行谐波平衡仿真(实际上这是一个类似于混频器的仿真,其中输入驱动起到LO的作用,小信号电流源为RF)
-仿真完成后,从“数据显示”中导出数据表 模板(template_param.dds)。 可以通过STAN工具直接读取获取的文件。

•template_multinode.dsn和template_multinode.dds:
为了获得关于电路的不同节点处的周期性稳态的一组频率响应(在一次ADS中执行),需要执行以下步骤:
-介绍 在template_multinode.dsn中具有特定偏置和输入驱动条件的电路-选择要分析的各个节点
-选择扫频(初始频率,最终频率和点数)。 用户可以根据其问题的动态来修改频率分辨率(即点数)。
-运行谐波平衡仿真(实际上这是一个类似于混频器的仿真,其中输入驱动起到LO的作用,小信号电流源为RF)
-仿真完成后,从“数据显示”中导出数据表 模板(template_multinode.dds)。 可以通过STAN工具直接读取获取的文件。

•通用文件:当使用ADS以外的工具进行仿真时,必须将频率响应格式化为三列文本文件(freq-real-imag或freq-mag-phase)。 STAN工具可以直接读取这些“通用”文件。 文件中可以包含任何种类的标头。 例:

1.在扫描期间,小信号电流发生器的频率不得与大信号基频(或其任何谐波)完全重叠。仅相距一赫兹就足以正确操作。大信号稳定性分析的ADS模板已经考虑了这一点。 2.在使用ADS时,我们强烈建议使用ADS模板来获得频率响应,特别是对于大信号稳定性分析。这些模板的准备方式使用户只需要考虑选择要进行分析的节点和频率扫描的带宽即可。 3.识别结果仅在定义了频率响应的分析频带内给出。在某些情况下,也可以正确检测出超出分析带宽但靠近边缘的极点和零点。 4.选择要分析的电路节点:可以使用多输入多输出(MIMO)线性系统理论来证明,在任意节点n处获得的所有传递函数H(s)都共享相同的极点,但零极点除外。取消。这些精确的零极点抵消与在电路的某些节点处发生的可控制性和/或可观察性的损失有关。通常,节点距离负责振荡的非线性元件越近,可控制性和可观察性最高(用于识别的灵敏度最高)。然而,当多级功率放大器中存在奇模振荡时,可能会在功率组合结构的某些节点上发生精确的零极点抵消。因此,建议以下建议:

5.频率分辨率由频率扫描中考虑的点数给出。 所需的频率分辨率取决于所分析电路的动态,并且显然因情况而异。 扫频的点数没有限制。
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