它可以将反射率、透过率、吸收率、光密度、损失、颜色、亮度、PSI、基于反射后投射的相移和电场强度计算并绘制表格。
它可以分析膜系设计同生产之间的误差。优化可以使误差最小化。膜层灵敏度可以计算并演示出来。
可以在一系列圆锥角（就像集中的光束一样）和用户定义的辐射发散角内分析一个膜系。
镀膜所用膜料、基底和外部介质可能是弥散或者吸收的，而内部介质却是弥散的。弥散公式可以用来给定膜料和基底的相关系数。
基底或膜层的折射率（N和K）可以由测定的数据来确定。光源要详细说明。薄膜的折射或投射可以储存作为光源，所以滤光器的输出可作为另一个滤光器的输入。同样，黑体光源可以由此产生。
下面详细说明探测器的功能：
基底有有限的厚度；折射和透射计算时要考虑到基底后表面和基底内部的任何衰减。
一个膜系最多可以有5000层150种材料组成。
膜堆以公式的形式出现，例如：H(LH)^5
膜层可以被安排在组内，可以整组优化。
全球搜索用来寻找最好的设计方案而不仅仅是the local minimum
基底两侧的膜层可以同时优化。在优化过程中，膜层厚度可以限定在最小和最大厚度之间。
有多达5000个优化目标可以指定。同样，一个目标可以是一个不等式，例如<10%或>90％。
复合环境可以用来开发像复合基底的膜系设计。
Needle优化可以在设计中自动加入膜层，尤其是对那些有特殊要求的设计。这种掘进方法可以用来自动产生一系列最佳的设计。
目标可能会自动产生。同样，目标也可以从文件中读出，形成颜色和亮度目标。
第二和第三阶关于波长或波数的导数可以用作目标。
可以计算出等效系数来将膜层用复合系数的等效膜堆[例如：(HLH)^p或(LHL)^p]来代替。
有三种local 优化方法可选：梯度法、变尺度法和单纯形法。
对不限定数量的材料、基底、光源、探测器和分配的数据要输入。
六层薄膜运算的结果放入一个表格内进行对比。不同类的图表将被覆盖掉,例如：折射透射。
最小、最大和平均参量（例如折射率）可以在一定波长范围内计算。
结果被保存在文本文档中以供其他软件编辑。
光控曲线可以计算并列表。
